四探针电阻率测试仪BEST-300C
适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求
电阻测量范围：
电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
电阻：1×10-5～2×105Ω
电导率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： ~小1μΩ
测量误差±5%
测量电压量程：?2mV? 20mV? 200mV?2V?
测量精度±（0.1%读数）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
电流输出：直流电流?0～1000mA?连续可调，由交流电源供电。
量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,?
误差：±0.2%读数±2字
主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm
显示方式：液晶显示
电源：220±10% 50HZ/60HZ
标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
国际标准分类中，四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。

在中国标准分类中，四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。
产品名称：四探针电阻率测试仪
产品手机链接：http://m.vooec.com/product_224447873.html
产品网站链接：http://www.vooec.com/cpshow_224447873/