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半导体硅单晶片研磨粉(不二见-PWA)

该研磨抛光微粉是以工业氧化铝为主要原料,采用特殊矿化剂、高温控制晶粒形状及大小,经特殊处理和严格的分级而制成。硬度仅次于金刚石,是非常优异的精密研磨抛光微粉。

1、性能:本产品颗粒呈独特的平板状结构,硬度高达莫氏九级,磨削力强,不易产生划痕,可得到高效率、高精度的被加工表面,有特殊设计的粒度分布,质量同日本 FUJIMI公司的PWA和美国Microgrit 的WCA相当。

2、特点:
A、形状为平板状,即片状,使磨擦力增大,提高了磨削速度,提高了工效,因此可减少磨片机的数量、人工和磨削时间,如显像管玻壳磨削工效能提高3-5倍;
B、由于形状为平板状,故对于被磨对象(如半导体硅片等)来说不易划伤,合格品率可提高10%至15%,如半导体硅片,其合格品率一般能达到99%以上;
C、由于硬度比普通氧化铝研磨抛光微粉高,故用量比普通氧化铝研磨抛光微粉要少,如果磨同样数量的产品,其用量比普通氧化铝研磨抛光微粉要节约40%至50%;
D、与国外同类产品相比,质量达到或超过国外同类产品,品质已达到国际标准,但产品价格只有国外同类产品的60%--70%;
E、由于平板型氧化铝研磨抛光微粉的优良性能,故加工的产品合格品率高,质量稳定,生产成本只有原来的50%-60%。

化学指标:
化学成份 指标(%) 测度结果(%)
Al2O3 > 99.0 99.36
SiO2 < 0.2 0.027
Na2O < 0.6 0.35
Fe2O3 < 0.1 0.03

产品粒度:
粒度号 平均粒度(μm)
CA15 10.5±1.0
CA12 8.0±0.8
产品名称:半导体硅单晶片研磨粉(不二见-PWA)
产品手机链接:http://m.vooec.com/trade_4093235.html
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