AOI自动光学检测仪概述：
　　AOI（Automatic Optic Inspection），中文名自动光学检测仪。该仪器是利用光学方法，采用权值成像数据分析原理，用来检测SMT工艺中的锡膏缺陷、零件缺陷和焊点缺陷。测量时，将待测PCB置于光学镜头下方，逐个采集每个焊盘或零件的图像，并对图像进行连续的数字化处理分析，然后与预存的“标准”进行比较分析进而作出缺陷结论。
　　AOI的实施目标：
　　最终品质：通常置于SMT生产线的最末端，用为检查SMT之的的产品缺陷；
　　过程控制：分别置于印刷机、贴片机之后，用来检查SMT工序缺陷并反馈数据。
　　AOI的的理：AOI应用了光学原理为采集数据、应用统计学原理来分析数据并将数据数字化、应用图像比对原理将摄取图像怀“标准”图像进行运算比对而得出检测结论。
AOI自动光学检测仪（ALD520）产品特性
01.环形塔状四色光源，可根据不同检测需要进行切换
02.灵活应对波峰焊、印刷后、炉前、炉后、键盘的检测
03.模块化软硬件创新界面、保姆式操作流程
04.高清晰3CCD全彩数字相机，一体化视觉系统
05.自动画框、CAD数据导入自动搜索元件库
06.测试速度满足1.5条以上高速贴片线的检测需求
07.真正细小0201的检测能力，对应01005的升级方案
08.SPC与AOI无缝连接，实时掌握工艺信息，保障品质
09.离线编程软件可应对ALeader所有机型
10.远程控制与MSDE中心服务器管理模式
AOI自动光学检测仪（ALD520）设备技术参数
检测的电路板：通孔和混合技术的SMT锡膏印刷后及回焊炉前和回焊炉后电路板检查
检测方法：统计建模，全彩色图像比对，根据不同检测点自动设定其参数（如偏移、极性、短路等）
检测覆盖类型：锡膏印刷：有无、偏移、少锡、多锡、断路、连锡、污染等
零件缺陷：缺件、偏移、歪斜、立碑、侧立、翻件、错件，OCV、破损、反向等
焊点缺陷：锡多、锡少、虚焊、连锡、铜箔污染等
分辨率/视觉范围/速度：（standard）20μm/Pixel FOV : 27.84×20.8 检测速度＜210ms/FOV（标配）（option）15μm/Pixel FOV : 20.88×15.6 检测速度＜190ms/FOV（选配）
最小零件测试：20μm：0201chip & 0.3pitch IC
PCB尺寸范围：50×50mm(Min)～430×330mm(Max)
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产品名称：供应价格优的AOI光学检测仪
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