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wat半导体参数测试设备and晶圆片检测仪

wat半导体参数测试设备and晶圆片检测仪优势:

IV、CV一键测;一体机,支持远程指令控制;支持三同轴接探针台

能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试;详询18140663476

概述:

SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。

基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。



产品特点:


30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力;

测量精度高,全量程下可达0.03%精度;


内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;


自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;

提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;

免费提供上位机软件及SCPI指令集;



典型应用:

纳米、柔性等材料特性分析;


二极管;


MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;


第三代半导体材料/器件;


有机OFET器件;


LED、OLED、光电器件;

半导体电阻式等传感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;

电阻率系数和霍尔效应测量;

太阳能电池;

非易失性存储设备;

失效分析;

武汉普赛斯自主研发的高精度台式数字源表、脉冲式源表、集成插卡式源表、窄脉冲电流源、高精度高压电源等,田补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺,为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台,以及相关技术服务,满足行业对测试效率、测试精度,以及低成本的挑战。wat半导体参数测试设备and晶圆片检测仪认准普赛斯仪表咨询,详询一八一四零六六三四七六;
产品名称:wat半导体参数测试设备and晶圆片检测仪
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