PMST系列功率器件静态参数测试系统，是普赛斯仪表经过精心设计与打造的高精密电压/电流测试分析系统。该系统不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能，还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求，确保测量效率、一致性与可靠性的卓越表现。
此外，普赛斯仪表功率半导体静态参数测试解决方案还支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作，能够在整个表征过程中实现高效和可重复的器件表征。同时，该方案还可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。从pA级、mV级高精度源表到kA级、10kV源表，普赛斯的产品解决了国内企业在半导体芯片以及第三代半导体芯片测试中的仪表国产化问题，并在客户IGBT产线上推出了多条测试示范线，引领了国内IGBT测试的技术潮流。详询18140663476

“双高”系统优势


高电压、大电流


具有高电压测量/输出能力,电压高达3500V(蕞大可扩展至10kV)


具有大电流测量/输出能力,电流高达6000A(多模块并联)


高精度测量


nA级漏电流, μΩ级导通电阻


0.1%精度测量


模块化配置


可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元系统预留升级空间,后期可添加或升级测量单元


测试效率高


内置专用开关矩阵,根据测试项目自动切换电路与测量单元


支持国标全指标的一键测试


扩展性好


支持常温及高温测试可灵活定制各种夹具



测试项目
集电极-发射极电压Vces，集电极-发射极击穿电压V(br)ces、集电极-发射极饱和电压Vcesat
集电极截止电流Ices、栅极漏电流Iges
栅极-发射极电压Vges、栅极-发射极阈值电压Vge(th)
输入电容、输出电容、反向传输电容
续流二极管压降Vf
I-V特性曲线扫描，C-V特性曲线扫描等

普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，详询一八一四零六六三四七六；

产品名称：SiC GaN三代半功率器件参数分析仪
产品手机链接：http://m.vooec.com/trade_507810677.html
产品网站链接：http://www.vooec.com/sjshow_507810677/