半导体特性曲线仪iv+cv测试机优势：

IV、CV一键测；一体机，支持远程指令控制；支持三同轴接探针台

能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试；详询18140663476

产品特点：


30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；

测量精度高,全量程下可达0.03%精度；


内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；


自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；

提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；

免费提供上位机软件及SCPI指令集；



典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；


二极管；


MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；


第三代半导体材料/器件；


有机OFET器件；


LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；

目前，武汉普赛斯仪表有限公司的产品已经覆盖了10pA-6000A、300mV-10KV的电压电流范围，并在多个领域展现出绝对优势。特别是在聚焦SiC/IGBT/GaN第三代半导体的电源及测试需求方面，我司在3500V、1000A以上量程及测试性能均处于绝对优势地位。此外，在大功率激光器测试、PD、APD、SPAD、SIPM晶圆测试及老化电源市场，普赛斯仪表的产品也能够满足绝大多数应用场景的需求。半导体特性曲线仪iv+cv测试机就找普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；

产品名称：半导体特性曲线仪iv+cv测试机
产品手机链接：http://m.vooec.com/trade_507811574.html
产品网站链接：http://www.vooec.com/sjshow_507811574/